You are using an outdated browser. Please upgrade your browser to improve your experience.
Мы используем «куки», чтобы было удобней пользоваться нашей интернет-страницей. Используя наш сайт, вы соглашаетесь с нашей политикой приватности. Для более подробной информации ознакомьтесь с нашей политикой конфиденциал
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: Учеб. пособие
Описание
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
.
.
.Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов.