You are using an outdated browser. Please upgrade your browser to improve your experience.

{name}
{name}
{product_id}
{price} €
шт.
Сумма без налога с оборота:
0.00 €
Налог:
0.00 €
Общая сумма с налогом:
0.00 €
Ваша скидка:
0.00 €
help facebook
Доставка книг по всей Европе

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография

41.42 €
31.06 €
Книга с полки

Описание

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
ID Продукта
2904677
Автор
Издательство
Серия
Год
2021
ISBN
978-5-8114-8773-8
Item code
13499915
Вес
0.33
Формат
84х108/32 шитая
Переплет
твердый
Доступность
На складе
Размер посылки
XS