Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов: монография
Raamat riiulist
Kirjeldus
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».Toode ID
2904677
Autor
Kirjastaja
Seeria
Aasta
2021
ISBN
978-5-8114-8773-8
Kood
13499915
Kaal
0.33
Vorming
84х108/32 шитая
Köitmine
твердый
Kättesaadavus
Laos
Pakendi suurus
XS
