You are using an outdated browser. Please upgrade your browser to improve your experience.
Мы используем «куки», чтобы было удобней пользоваться нашей интернет-страницей. Используя наш сайт, вы соглашаетесь с нашей политикой приватности. Для более подробной информации ознакомьтесь с нашей политикой конфиденциал
Инфракрасная спектроскопия твердотельных систем пониженной размерности. Учебн. пос., 1-е изд.
Kirjeldus
Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии.
.Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.